RT - Journal Article T1 - A Defect Tolerant Design for 5-Input Majority Gate in Quantum-dot Cellular Automata JF - jiaeee YR - 2022 JO - jiaeee VO - 19 IS - 2 UR - http://jiaeee.com/article-1-1124-fa.html SP - 39 EP - 45 K1 - Quantum-dot Cellular Automata K1 - Nano-electronics K1 - Fault Tolerance K1 - Majority Gate K1 - QCADesigner. AB - اتوماتای سلولی کوانتومی یک تکنولوژی جدید جهت پیاده سازی گیت‌های منطقی و مدارهای دیجیتال در مقیاس نانو است. با کاهش ابعاد قطعات، حساسیت مدار بیشتر شده و مدارهای کوانتومی نسبت به عوامل نامساعد محیط آسیب پذیرتر هستند. با توجه به اهمیت طراحی مدارات تحمل پذیر اشکال، در این مقاله به ارائه یک گیت اکثریت پنج ورودی با ویژگی تحمل پذیری اشکال در تکنولوژی اتوماتای سلولی کوانتومی می‌پردازیم و تمام اشکال‌های ممکن در پروسه جایگذاری سلول‌ها در مکان‌های خاصی در روی سطح را مورد ارزیابی قرار می‌دهیم. این اشکال‌ها شامل جابجایی، حذف، چرخش و سلول اضافه می‌باشند. در گام نخست به گیت مورد بررسی چهار نوع اشکال ذکر شده اعمال گردیده و در گام بعدی صحت عملکرد مدار با موتور شبیه‌ساز QCADesigner مورد ارزیابی قرار داده می‌شود . برای یافتن چنین گیت اکثریتی روش‌های مختلفی از جمله روش افزودن سلول (که همان تزریق افزونگی به مدار است) و روش چینش خاص سلول‌ها مورد آزمایش قرار می‌گیرد. سعی بر این است که طرحی یافت شود که حتی الامکان تنها باچینش خاص سلول‌ها توانایی مقاومت در برابر نقص‌های احتمالی را داشته باشد به گونه ای که حداقل سربار به مدار جهت تحمل پذیری اشکال تحمیل شود . نتایج نشان می‌دهد که گیت اکثریت معرفی شده در مقایسه با موارد مشابه از برتری قابل توجهی برخوردار است. LA eng UL http://jiaeee.com/article-1-1124-fa.html M3 10.52547/jiaeee.19.2.39 ER -